LEM-1非接触式光电跟踪测头

  • 时间:2017-05-03 16:11:59
  • 来源:技术研究院

主要内容

近两年我室成功研制的LEM-1非接触式光电跟踪测头采用半光斑成像原理,以半导体激光器作为光源,集激光技术、光电子技术、光学技术和机械技术于一体,配合三坐标测量机可以完成自由曲面的非接触跟踪测量。

性能指标

测量不确定度 ≤±1µm;

测量范围:0~40mm;

脉冲信号输出;

模拟量信号输出;

产品特点

作为三坐标测量机的测头,可根据模拟信号输出实现自由曲面测量;也可采用零点脉冲输出方式,方便快捷地完成对被测表面的动态测量;体积小,重量轻,安装方便。

服务方式

技术转让、产品代销、合作开发等均可。

费用

根据情况面议。